用QT2Q型晶體管特性圖示儀測試可控硅晶閘管參數(shù)

東莞市環(huán)昕微實業(yè)有限公司用QT2Q型晶體管特性圖示儀測試可控硅晶閘管參數(shù)步驟如下：

1  儀器與測試治具的連接

3.2 將 Y 軸旋鈕旋到“100uA”。將 X 軸旋鈕選到“100V”位置；“功耗限制電阻”旋到“10K”位置；“階梯信號”組的“作用”開關(guān)打到“關(guān)”位置，“幅度/級”選擇開關(guān)旋到“20 uA”位置；按下“3000V輸出電壓”選擇開關(guān),旋動“峰值電壓”旋鈕，使水平方向的光標(biāo)成一水平橫線，其值為 700V 左右。

3.3 將需要測試的器件插入相應(yīng)的兩孔測試插座內(nèi)。
3.4 示波器上會顯示出一條先是水平，然后向下轉(zhuǎn)折的一條曲線。其轉(zhuǎn)折點所對應(yīng)的 X 軸坐標(biāo)值×100V 即為一反向擊穿電壓值。
3.5 按下測試治具上的開關(guān)，示波器上所顯示的波形會發(fā)生變化，變成一條水平直線和一條起始點的豎直直線。水平直線所對應(yīng)的 X 軸坐標(biāo)值×100V 即為另一反向擊穿電壓。
3.6 取步驟 3.4、3.5 的最低電壓，即為可控硅的反向擊穿電壓。
3.7 擊穿電壓的分類和判別方法：
4  可控硅漏電流的測試
4.1 將 Y 軸、X 軸“方式”選擇開關(guān)都打向“測量”位置。此時光標(biāo)應(yīng)為一條水平橫線在中線上。
4.2 將 Y 軸旋鈕旋到“10uA”。將 X 軸旋鈕選到“100V”位置；“功耗限制電阻”旋到“10K”位置；“階梯信號”組的“作用”開關(guān)打到“關(guān)”位置，“幅度/級”選擇開關(guān)旋到“20 uA”位置；按下“3000V輸出電壓”選擇開關(guān),旋動“峰值電壓”旋鈕，使水平方向的光標(biāo)成一水平曲線，曲線的 X 軸坐標(biāo)值×100V為該檔電壓下限值。調(diào)節(jié) Y 軸“移位”旋鈕使曲線右端的尖點在中心水平線上。
4.3 將需要測試的器件插入相應(yīng)的兩孔測試插座內(nèi)。
4.4 示波器上所顯示出曲線會有所變化。右端的尖峰會向下彎曲。其彎曲值每格為 10uA。即為該器件的漏電流值。
4.5 電流的分類和判別方法：
5 可控硅觸發(fā)電流的測試
5.1 將 Y 軸旋鈕旋到“20mA”。將 X 軸旋鈕選到“外接”位置；“功耗限制電阻”旋到“100Ω”位置；“階梯信號”組的“作用”開關(guān)打到“正常”位置，“級/秒”開關(guān)打到“200”；“級/族”旋鈕旋到最大；“幅度/級”選擇開關(guān)旋到“10 uA”（151 為“1mA”）位置；按下“10V 輸出電壓”選擇開關(guān)；左下角測試開關(guān)打向“測試 A”；由下角“測試選擇”開關(guān)打到“NPN”；“常態(tài)/倒置”開關(guān)打到“常態(tài)”。此時，示波器上的波形應(yīng)為十個觸發(fā)脈沖波。
5.2 將需要測試的器件插入相應(yīng)的兩孔測試插座內(nèi)。示波器上的波形會發(fā)生變化：前面的觸發(fā)脈沖會向 X 軸方向的右邊拉開；同時脈沖的幅度加大。
5.3 觸發(fā)電流的大小判別方法為：第一條豎線與第二條豎線 X 軸方向的寬度格數(shù)ד幅度/級”選擇開關(guān)的位置值。如果不好判別時，允許將“幅度/級”選擇開關(guān)的檔位打小，以便更精確讀取度數(shù)。

6  飽和壓降
X 軸、Y 軸“方式”選擇開關(guān)打到“⊥”位置。旋動 Y 軸“移位”旋鈕使光標(biāo)移到最下面水平線上；旋動 X 軸“移位”旋鈕使光標(biāo)移到 X 軸第二條標(biāo)尺線上。
6.2 將 Y 軸旋鈕旋到“200mA”。將 X 軸旋鈕選到“200mV”位置；“功耗限制電阻”旋到“2～5Ω”位置；“階梯信號”組的“作用”開關(guān)打到“正常”位置，“級/秒”開關(guān)打到“200”；“級/族”旋鈕旋到最
大；“幅度/級”選擇開關(guān)旋到“20 uA”（151 為“1mA”）位置；按下“50V 輸出電壓”選擇開關(guān)；左下角測試開關(guān)打向“測試 A”；由下角“測試選擇”開關(guān)打到“NPN”；“常態(tài)/倒置”開關(guān)打到“常態(tài)”。
6.3 將所要測試的器件插到相應(yīng)的測試插座內(nèi)。示波器上將顯示出一條開始平后向上彎曲的曲線。
6.4 數(shù)值的讀取方法：(曲線最上端所處的豎線格數(shù)－起始格數(shù))×200mV÷1000 即位飽和壓降值。